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60mm激光平面干涉仪

G60UP激光平面干涉仪通光口径为Φ60mm ,镜头上置,仪器具备良好的隔振性能。

G60DP激光平面干涉仪通光口径为<P60mm ,镜头下置,用于平面元件的低量快速检测。
主要用途:平面类光学元件(包括玻璃、金属、啕瓷等)表面面形、透过波前、光学平行度和材料均匀性的测试, 适合直角棱镜,角锥等的内反射测量。



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