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G5U-PH 激光干涉仪

随着手机行业的发展,3D屏及全面屏的摄像孔开始无限靠近弧边,相应的,透过波前的PV值也远大于之前的2D及2.5D屏。尤其是摄像孔边缘区域(贴近弧边)的干涉条纹会非常密集,超出上一代产品G10U-PH激光干涉仪(及行业内主流的与G10相当的产品)的分辨极限,导致无法准确测量。



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一、仪器规格参数
    G5U-PH激光干涉仪为3D屏及全面屏摄像孔检测而定制,可以满足条纹非常密集、超大像差(PV值非常大)状况下的准确测量。仪器采用进口He-Ne激光器,并标配气浮减震平台,在环境恶劣的生产现场亦可以保证稳定、可靠的测试。
仪器规格参数表
硬件部分:
产品型号
G5U-PH
产品名称
5mm正立式激光干涉仪
测试口径
Φ5mm
辅助对准口径
Φ30mm
标准镜面形精度
λ/20
光源
进口He-Ne激光器(632.8nm)
光路切换
辅助观察(Φ30mm大视场)与测试(Φ5mm小视场)模式电控切换
电源
AC220V50HZ
标配配件
气浮减震平台
 
软件部分:
软件名称
移相算法(简称PH)
分析项目
透过波前PV值、平行度Tilt值、ttv等
测试重复性
PV:0.01λ   RMS:0.003λ
测试允许误差
PV<1λ时    PV:0.05λ   Tilt:0.2fr(零场调整为1根条纹)
1λ<PV<2λ时  PV:0.1λ   Tilt:0.5fr(零场调整为1根条纹)
2λ<PV<3λ时  PV:0.2λ   Tilt:1fr(零场调整为1根条纹)
测试时间
1.5秒
 
二、仪器特点
1、可满足超大像差的准确检测
随着手机行业的发展,3D屏及全面屏的摄像孔开始无限靠近弧边,相应的,透过波前的PV值也远大于之前的2D及2.5D屏。尤其是摄像孔边缘区域(贴近弧边)的干涉条纹会非常密集,超出上一代产品G10U-PH激光干涉仪(及行业内主流的与G10相当的产品)的分辨极限,导致无法准确测量。
G5U-PH便针对该特殊需求而设计,可以对超大像差实现准确分辨及测试。
相同摄像孔在G5U及G10U干涉仪图像对比
 
 
 
 最大可准确测量的像差,G5U-PH相对于G10U-PH的升级见下表:
 
G10U-PH
G5U-PH
条纹数
20fr
40fr
PV(背景零场测试值)
注:PV(背景零场测试值)为背景调整为零条纹时,直接测量所得的PV值。   
2、空腔调整零场精度高
在测试摄像小孔区域的平行度时,需要预先把空腔调整至接近零条纹。当测试口径为Φ5mm时,由于观察视场非常小,调整零条纹的精度较低。为此,G5U-PH干涉仪引入辅助观察模式,可以在Φ30mm的大视场下调节空腔的零场,保证零场调节精度。
3、光源为进口He-Ne激光器(波长632.8nm)
He-Ne激光器相比半导体激光相比有如下优点:相干性稳定、优良,干涉图的对比度及清晰度更高,且寿命很长(一般可达到2万小时以上)。半导体激光器随温度变化产生的温飘会使干涉条纹的对比度、清晰度周期性变差,对数字化测量有很大影响;且寿命较短,易被静电损伤。
4、标配气浮减震平台
仪器标配气浮减震平台,即使在环境恶劣的生产现场亦可以保证稳定、可靠的测试。
5、后续可升级自动化测试方案
仪器可通过串口与自动化设备进行通讯。且进口He-Ne激光器与气浮减震平台的使用,使仪器可以在无人干预的情况下,保证稳定、可靠的测试,后续可升级自动化测试。